| 非设备故障缺陷引起紫外放电测试结果差异的因素分析 |
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| 引用本文： | 肖遥,张志劲,邓军,苏永祥,夏谷林,蒋兴良.非设备故障缺陷引起紫外放电测试结果差异的因素分析[J].高电压技术,2015,41(3):887-894. |
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| 作者姓名： | 肖遥 张志劲 邓军 苏永祥 夏谷林 蒋兴良 |
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| 作者单位： | 1. 南方电网超高压输电公司检修试验中心,广州,448000
2. 重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室,重庆,400030 |
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| 基金项目： | 国家创新研究群体基金(51321063)~~ |
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| 摘 要： | 为了提高紫外成像对放电检测的准确性,探讨量化放电强度的可能性,使用3台不同紫外成像仪对影响紫外成像的因素进行了对比研究。研究表明:不同厂家、型号的紫外成像仪在相同放电条件下所测的图像和光子数有显著差异;相同条件下,紫外光子数随着增益逐渐增大而增加,到达峰值后开始衰减,其规律受仪器型号和检测距离的影响,3台仪器在检测放电时有其对应的最佳增益;拍摄距离对光子数的影响与增益和仪器有关,光子数与检测距离存在复杂非线性关系;紫外成像仪从正面到侧面检测设备放电的结果基本相同。研究结果对完善紫外成像检测电晕规程和工程应用具有重要的参考价值。
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| 关 键 词： | 电晕 紫外成像 放电检测 放电强度 增益 光子数 |
Analysis on Factors of UV-discharge Test Results Difference Caused by Non-equipment Defect and Fault |
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| XIAO Yao
,
ZHANG Zhijin
,
DENG Jun
,
SU Yongxiang
,
XIA Gulin
,
JIANG Xingliang.Analysis on Factors of UV-discharge Test Results Difference Caused by Non-equipment Defect and Fault[J].High Voltage Engineering,2015,41(3):887-894. |
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| Authors: | XIAO Yao ZHANG Zhijin DENG Jun SU Yongxiang XIA Gulin JIANG Xingliang |
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| Affiliation: | XIAO Yao;ZHANG Zhijin;DENG Jun;SU Yongxiang;XIA Gulin;JIANG Xingliang;Test Center of EHV Transmission Company,China Southern Power Grid;State Key Laboratory of Power Transmission Equipment & System Security and New Technology, Chongqing University; |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | corona discharge ultraviolet imaging discharge detection discharge intensity gain photon counting |
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