|
|||||
|
|
| 自动测试系统中的信号开关设计 | |
| 引用本文： | 于劲松,李行善,徐波.自动测试系统中的信号开关设计[J].测控技术,2004,23(8):62-64. |
| 作者姓名： | 于劲松 李行善 徐波 |
| 作者单位： | 北京航空航天大学,自动化科学与电气工程学院,北京,100083;北京航空航天大学,自动化科学与电气工程学院,北京,100083;北京航空航天大学,自动化科学与电气工程学院,北京,100083 |
| 摘 要： | 开关系统是整个自动测试系统的核心,开关系统在自动测试系统中实现测点与测试仪器间的连接,测试信号的路由切换以及被测单元与电源系统的连接.笔者从自动测试系统设计的角度重点讨论了开关系统的拓扑结构、开关选择以及自动测试系统中开关的布局与配置. |
| 关 键 词： | 自动测试系统 开关系统 硬件集成 |
| 文章编号： | 1000-8829(2004)08-0062-03 |
| 修稿时间： | 2003年12月5日 |
Design of Signal Switching in Automatic Test System |
|
| Abstract: | |
| Keywords: | |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ | |