自动测试系统中的信号开关设计 |
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引用本文: | 于劲松,李行善,徐波. 自动测试系统中的信号开关设计[J]. 测控技术, 2004, 23(8): 62-64 |
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作者姓名: | 于劲松 李行善 徐波 |
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作者单位: | 北京航空航天大学,自动化科学与电气工程学院,北京,100083;北京航空航天大学,自动化科学与电气工程学院,北京,100083;北京航空航天大学,自动化科学与电气工程学院,北京,100083 |
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摘 要: | 开关系统是整个自动测试系统的核心,开关系统在自动测试系统中实现测点与测试仪器间的连接,测试信号的路由切换以及被测单元与电源系统的连接.笔者从自动测试系统设计的角度重点讨论了开关系统的拓扑结构、开关选择以及自动测试系统中开关的布局与配置.
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关 键 词: | 自动测试系统 开关系统 硬件集成 |
文章编号: | 1000-8829(2004)08-0062-03 |
修稿时间: | 2003-12-05 |
Design of Signal Switching in Automatic Test System |
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