首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

射线底片上伪缺陷的识别与消除
作者姓名:张路根 刘弘 等
作者单位:[1]江西省名优检所,南昌330029 [2]吉安市名优检所,吉安343
摘    要:本文介绍了射线底片上伪缺陷形成原因、识别及及消除方法。

关 键 词:伪缺陷 识别 消除 射线底片 X射线
本文献已被 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号