硅钼兰全差示光度法测定钼精矿中的二氧化硅 |
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引用本文: | 王中岐.硅钼兰全差示光度法测定钼精矿中的二氧化硅[J].中国钼业,1990(4). |
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作者姓名: | 王中岐 |
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作者单位: | 金堆城钼业公司百花岭选矿厂 |
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摘 要: | 前言钼精矿中的二氧化硅的测定一般采用氟化氢挥发重量法和盐酸脱水重量法。其优点是准确度和精密度高,但其缺点是流程长,劳动强度大,工作效率低,而且测定还需要昂贵的铂坩埚。我们参考有关资料采用硅钼兰全差示光度法测定钼精矿中的二氧化硅,方法快速、简便、成本低、准确度和精密度均能满足生产要求,适用于成批量的产品分析。
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