| 激光熔凝过程中金属薄膜瞬态电阻的测量 |
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| 引用本文： | 童文辉,杨院生,朱仕学,惠希东,陈晓明,于力,胡壮麒.激光熔凝过程中金属薄膜瞬态电阻的测量[J].金属学报,2001,37(11):1213-1216. |
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| 作者姓名： | 童文辉 杨院生 朱仕学 惠希东 陈晓明 于力 胡壮麒 |
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| 作者单位： | 1. 中国科学院金属研究所,
2. 北京科技大学 |
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| 基金项目： | 中国科学院“九五”重大基础研究资助项目KJ951－B1－704 |
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| 摘 要： | 采用瞬态电阻测量方法，对激光表面快速熔凝过程进行了实时跟踪，分析了激光器单脉冲能量、金属薄膜的预热温度等参数对测定结果的影响。结果表明；在快速熔凝过程中金属薄膜的电阻随过程时间呈凸峰状变化，在激光加热周期内，电阻随时间迅速增加，之后随时间的推移又逐渐减小，电阻的减小速度低于增加速度；随着激光功率密度增加，电阻曲线的峰值增大，升温及冷却速度相应增大；随着预热温度的提高，电阻峰值也相应增大，但是样品下表面的热导出率下降，冷却速度下降；当样品下表面的导热能力降低时，样品的电阻曲线峰值有所提高，而在冷却段电阻却明显变化缓慢。
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| 关 键 词： | 金属薄膜 瞬态电阻测量 激光熔凝 |
| 文章编号： | 0412-1961(2001)011-1213-04 |
| 修稿时间： | 2001年7月27日 |
MEASUREMENT IN TRANSIENT RESISTANCE OF METAL FILMS DURING LASER PULSE HEATING |
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| TONG Wenhu,YANG Yuansheng,ZHU Shixue,HUI Xidong,CHEN Xiaoming,YU Li,HU Zhuangqi Institute of Metal Research,The Chinese Academy of Sciences,Shenyang.MEASUREMENT IN TRANSIENT RESISTANCE OF METAL FILMS DURING LASER PULSE HEATING[J].Acta Metallurgica Sinica,2001,37(11):1213-1216. |
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| Authors: | TONG Wenhu YANG Yuansheng ZHU Shixue HUI Xidong CHEN Xiaoming YU Li HU Zhuangqi Institute of Metal Research The Chinese Academy of Sciences Shenyang |
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| Affiliation: | TONG Wenhu2,YANG Yuansheng,ZHU Shixue,HUI Xidong,CHEN Xiaoming,YU Li,HU Zhuangqi Institute of Metal Research,The Chinese Academy of Sciences,Shenyang 110016 |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | rapid melting and solidification process pulse laser metal film |
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