抗辐射光接收机的设计技术

本文研究了光接收机的抗辐射设计技术,研究了瞬时电离效应和永久性损伤影响。研究结果表明,在光灵敏度和抗瞬时电离性能之间有一个基本的折中方法,主要取决于比特率和检测器的物理特性。此外,还研究了各种输入级的设计和调制方法,以使光灵敏度和抗辐射性能都最佳化。辐射试验结果包含了三种不同类型接收机在五种不同辐射环境下所作的试验。这些结果与不同类型输入级的设计方程式计算结果非常一致,并证明了采用现有的光器件和半导体器件可以达到的抗辐射水平。