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基于剪切散斑干涉无损探伤的缺陷深度测量北大核心CSCD
引用本文:王硕,占明明,刘斌,简琦薇,张贵辉.基于剪切散斑干涉无损探伤的缺陷深度测量北大核心CSCD[J].激光与红外,2023,53(1):12-19.
作者姓名:王硕  占明明  刘斌  简琦薇  张贵辉
作者单位:1.上海工程技术大学机械与汽车工程学院,上海 201620;2.湖北航天化学技术研究所,湖北 襄阳 441003
摘    要:基于激光剪切散斑干涉技术构建了无损检测系统,通过对铝合金平板钻圆形盲孔覆橡胶层的方式制备了设有不同尺寸和深度的内部缺陷的复合材料粘接试件,利用施加负压激励研究了不同负压值下试件内部缺陷所在表面的散斑条纹和离面位移情况,并结合有限元计算验证了检测系统有效性。结果表明:相同缺陷深度和负压值下,缺陷尺寸越大,散斑条纹级数越多、离面位移越大;相同缺陷尺寸和负压值下,缺陷深度越深,散斑条纹级数越小、离面位移越小。在利用该剪切散斑干涉无损检测系统准确获取内部缺陷的形状、位置和尺寸等信息的基础上,进一步基于弹性薄板理论推导了缺陷深度。缺陷深度测量精度随缺陷尺寸增大而提高,同时随深度增大而降低,直径为20 mm深度小于1 mm的圆形缺陷深度测量误差值小于10%。本文研究为复合材料粘接结构内部缺陷的深度检测提供了有效途径。

关 键 词:剪切散斑  无损检测  深度测量  内部缺陷  脱粘缺陷
修稿时间:2022/2/24 0:00:00

Defect depth measurement based on shearography non destructive testing
WANG Shuo,ZHAN Ming-ming,LIU Bin,JIAN Qi-wei,ZHANG Gui-hui.Defect depth measurement based on shearography non destructive testing[J].Laser & Infrared,2023,53(1):12-19.
Authors:WANG Shuo  ZHAN Ming-ming  LIU Bin  JIAN Qi-wei  ZHANG Gui-hui
Abstract:
Keywords:
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