OP07运算放大器的电离辐射损伤和退火特性研究

对ＴＴＬ双极运算放大器的ＯＰ０７进行了＾６０Ｃｏγ和１ＭｅＶ及１．５ＭｅＶ电子电离辐实验，研究了ＯＰ０７的电离辐射响应特性和抗总量辐射水平，并通过研究其电离辐照第三参数辐照后在室温和１００℃高温条件下随时间的变化关系，分析了在电离辐射环境中双极运算放大器的损伤机制及参数失效机理，为该类器件在卫星等电离辐射环境下的可靠应用，提供实验依据。