首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

波长复用傅里叶叠层显微术的关键参数研究
引用本文:唐立金,张慕阳,侯方,梁艳梅.波长复用傅里叶叠层显微术的关键参数研究[J].光电子.激光,2018,29(7):778-786.
作者姓名:唐立金  张慕阳  侯方  梁艳梅
作者单位:南开大学 电子信息与光学工程学院现代光学研究所,天津 300350,南开大学 电子信息与光学工程学院现代光学研究所,天津 300350,南开大学 电子信息与光学工程学院现代光学研究所,天津 300350,南开大学 电子信息与光学工程学院现代光学研究所,天津 300350
基金项目:国家自然科学基金(11374167)和天津市科技支撑重点项目(17YFZCSY00740)资助项目(南开大学 电子信息与光学工程学院现代光学研究所,天津 300350)
摘    要:波长复用傅里叶叠层显微术(WMFPM)是为了提 高傅里叶叠层显微术的采集效率和进一步获取高分辨率彩色图 像而提出的,但是目前选用实验系统器件参数时没有确定的方向。为了研究波长复用傅里叶 叠层显微系统 的关键参数对恢复彩色图像质量的影响,仿真实验分别研究了空间采样率、频 谱重叠率以及 二者结合对最终恢复质量的影响,结果表明:在相同的频谱重叠率下,空间采样率需要 满足空域采样 要求才能保证恢复质量,所以要选择满足空间采样要求的相机像素尺寸;在相同的空间采样 率下,频谱重 叠率在50%之间,可以达到较好的恢复质 量,因此需要根据实际的实验条件选择合适的LE D和样品之间的距离。研究结果对设计系统和选用最佳的系统参数提供了一定的指导作用。

关 键 词:傅里叶叠层显微术    波长复用    空间采样率    频谱重叠率
收稿时间:2017/12/15 0:00:00

Research on the key parameters of wavelength multiplexed Fourier ptychographic microscopy
TANG Li-jin,ZHANG Mu-yang,HOU Fang and LIANG Yan-mei.Research on the key parameters of wavelength multiplexed Fourier ptychographic microscopy[J].Journal of Optoelectronics·laser,2018,29(7):778-786.
Authors:TANG Li-jin  ZHANG Mu-yang  HOU Fang and LIANG Yan-mei
Affiliation:Institute of Modern Optics,College of Electronic Information and Optical Engineering,Nankai University,Tianjin 300350,China,Institute of Modern Optics,College of Electronic Information and Optical Engineering,Nankai University,Tianjin 300350,China,Institute of Modern Optics,College of Electronic Information and Optical Engineering,Nankai University,Tianjin 300350,China and Institute of Modern Optics,College of Electronic Information and Optical Engineering,Nankai University,Tianjin 300350,China
Abstract:
Keywords:Fourier ptychographic microscopy (FPM)  wavelength multiplex  spatial sampl ing ratio  spectral overlap ratio
点击此处可从《光电子.激光》浏览原始摘要信息
点击此处可从《光电子.激光》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号