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DOI
责任编辑
分类号
杂志ISSN号
DFT时代的ATE结构--多端口ATE
作者姓名:
MasaharuGoto
Klaus-DieterHilliges
作者单位:
安捷伦科技硅芯片系统测试部
摘 要:
在单颗硅芯片上设计更多系统功能(SOC)的趋势,增加了IC的开发与制造测试的复杂度。未来对于较高速度与较多管脚数的需求,将使传统的自动化测试仪器(ATE)变得非常昂贵。为了减轻开发工作的负担及降低制造测试的成本,不得不寻求知识产权(IP)的再利用与可测试性设计(DFT)技术。本文介绍一种新的多端口ATE结构,它是为基于IP的测试开发与执行而设计的。这种结构提供刚好足够的能力来测试芯片,以降低ATE的资本成本,并广泛使用平行测试来提高产能。
关 键 词:
DFT
多端口ATE结构
自动化测试仪器
可测试性设计
芯片测试
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