| 电路EMC设计与元器件的选取(四) |
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| 引用本文： | Keith Armstrong,李晓辉. 电路EMC设计与元器件的选取(四)[J]. 安全与电磁兼容, 2008, 0(1): 85-87 |
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| 作者姓名： | Keith Armstrong 李晓辉 |
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| 摘 要： | （上接2007年第6期91页）1．6 快速简便的内部测试有助于有源器件的选择尽管供应商提供了电子器件的EMC性能参数，但在实际工作环境中的EMC性能通常是无法预知的。在设计部门内部可以采取一些简便快捷的EMC测试方法对功能性电路进行测试，但电路中至少要具有时钟、完整的信号或数据输入／输出功能。有些供应商还可提供用于此类测试的评估板。
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| 关 键 词： | EMC设计 电路 元器件 测试方法 EMC性能 有源器件 性能参数 电子器件 |
Circuit Design and Choice of Components Part 4 |
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| Keith Armstrong. Circuit Design and Choice of Components Part 4[J]. Safety & EMC, 2008, 0(1): 85-87 |
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| Authors: | Keith Armstrong |
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