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反应磁控溅射沉积TixAlyNz热控薄膜研究
引用本文:李智,崔敬忠,李冠斌,梁耀廷. 反应磁控溅射沉积TixAlyNz热控薄膜研究[J]. 真空与低温, 2005, 11(1): 34-39
作者姓名:李智  崔敬忠  李冠斌  梁耀廷
作者单位:兰州物理研究所,甘肃,兰州,730000
摘    要:采用反应磁控溅射技术,以Ti和Al为溅射靶材料,Ar和N2为溅射气体,在Al基底上沉积TixAlyNz热控薄膜.优化制备薄膜的最佳实验条件.对薄膜进行XRD、XPS分析及热光学测试,研究了TixAlyNz薄膜的结构特点及热光学特性.结果表明,采用独立Ti、Al靶的磁控反应溅射制备的TixAlyNz热控薄膜,通过控制薄膜厚度与组成,在忽略飞行器内部热作用的条件下其平衡温度为34℃.

关 键 词:TixAlyNx薄膜  磁控溅射  热控
文章编号:1006-7086(2005)01-0034-06
修稿时间:2004-11-29

DEPOSITION OF TixAlyNz THERMAL CONTROL THIN FILMS BY MAGNETRON REACTIVE SPUTTERING
LI Zhi,CUI Jing-zhong,LI Guan-bin,LIANG Yao-ting. DEPOSITION OF TixAlyNz THERMAL CONTROL THIN FILMS BY MAGNETRON REACTIVE SPUTTERING[J]. Vacuum and Cryogenics, 2005, 11(1): 34-39
Authors:LI Zhi  CUI Jing-zhong  LI Guan-bin  LIANG Yao-ting
Abstract:
Keywords:Ti_x Al_yN_z thin films  magnetron sputtering  thermal control  
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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