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| 轻粒子焦面探测器系统基本特性在束检验 | |
| 引用本文： | 袁坚,万裕德.轻粒子焦面探测器系统基本特性在束检验[J].核技术,1995,18(3):170-175. |
| 作者姓名： | 袁坚 万裕德 |
| 作者单位： | 中国原子能科学研究院 |
| 摘 要： | 利用中国原子能科学研究院的ＨＩ－１３串列加速器提供的质子和α束流轰击＾１９７Ａｕ，＾１２Ｃ，＾５６Ｆｅ，Ｃ３Ｈ６Ｎ６等靶核的反应产物对配合Ｑ３Ｄ磁谱仪使用的轻粒子焦面探测器系统基本特性进行了在束检验，测量的平均本征位置分辨为１．３６±０．０７ｍｍ；积分非线性度好于７．５×１０＾－３。由△Ｅ－Ｅ组成的粒子鉴别望远镜可明显区分不同类型的轻粒子群。 |
| 关 键 词： | 焦面探测器系统 基本特性 轻粒子 在束检验 |
An on-beam test of the focal plane detector system for light particles |
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| Yuan Jian, Wan Yude,Gao Haiyan,Zhang Qinghua,Zhang Peihua,Cheng Yehao,Li Shuyuan,Zhang Qinjian, Li Zhongzhen.An on-beam test of the focal plane detector system for light particles[J].Nuclear Techniques,1995,18(3):170-175. | |
| Authors: | Yuan Jian Wan Yude Gao Haiyan Zhang Qinghua Zhang Peihua Cheng Yehao Li Shuyuan Zhang Qinjian Li Zhongzhen |
| Abstract: | |
| Keywords: | Position resolution Focal plane detector system |
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