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彩管荫罩热拱效应的分析与研究
引用本文:费民权,焦宗平,高岚.彩管荫罩热拱效应的分析与研究[J].真空电子技术,2005(5):28-32.
作者姓名:费民权  焦宗平  高岚
作者单位:彩虹集团电子股份有限公司,技术中心,陕西,咸阳,712021
摘    要:本文通过热拱效应现象,叙述了常用的分析评价方法,并简要介绍了热拱对策手段.

关 键 词:荫罩  热拱  温升  色纯  测试
文章编号:1002-8935(2005)05-0028-05
收稿时间:2005-01-25
修稿时间:2005年1月25日

Investigation of the Hot Doming Effect in Shadow Mask
FEI Min-quan,JIAO Zong-ping,GAO Lan.Investigation of the Hot Doming Effect in Shadow Mask[J].Vacuum Electronics,2005(5):28-32.
Authors:FEI Min-quan  JIAO Zong-ping  GAO Lan
Affiliation:Technical Center, IRICO Group Electronics Company Limited, Xianyang 712021, China
Abstract:By investigating the hot doming phenomenon, this paper descrbes the typical analysis weighting method, and briefly discusses the countermeasures to eliminate the hot doming effects.
Keywords:Shadow mask  Hot doming  Color purity  Test
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