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衬底纯度对GaAs MESFET短沟道效应的影响
作者姓名:Hiroshi Nakamura  周立军
摘    要:本文讨论了衬底纯度对GaAs MESFET短沟道效应的影响。高纯衬底采用MOCVD生长的非掺杂的缓冲层,而低纯衬底则使用注碳离子和(或)注氧离子的衬底。当沟道下面注入碳离子和(或)氧离子时,阈值电压强烈地改变。衬底不纯时,短沟道效应便被很好地抑制住了。

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