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| 千分尺检定中的几个技术问题(下) | |
| 作者姓名： | 沈家骞 |
| 作者单位： | 中国计量科学研究院长度处 |
| 摘 要： | 二、两工作面的平行度测砧和测量杆的工作面平行度,通常采用平行平晶或量块检定。平行平晶或量块的尺寸根据被检千分尺的测量范围确定,且在测量范围的中间尺寸段,即在A+12mm～A+16mm(A为测量下限)内选取依次间隔0.12～0.13 |
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