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基于穆勒矩阵的金属和电介质识别方法
引用本文:闫振纲,孙卫平,李杰,武江鹏,朱新宏,袁梦笛,薛亮,闫克丁. 基于穆勒矩阵的金属和电介质识别方法[J]. 激光与光电子学进展, 2019, 56(14): 232-239
作者姓名:闫振纲  孙卫平  李杰  武江鹏  朱新宏  袁梦笛  薛亮  闫克丁
作者单位:西安现代控制技术研究所,陕西西安,710065;上海电力大学电子信息工程学院,上海,200090;西安工业大学电子信息工程学院,陕西西安,710021
基金项目:国家自然科学基金;国家自然科学基金
摘    要:基于基尔霍夫近似方法,构建了穆勒矩阵全角度分布的数值计算模型,实现了对于金属和电介质随机粗糙表面穆勒矩阵的计算。结果表明,金属和电介质表面穆勒矩阵分布具有明显的差异,金属表面穆勒矩阵中6个元素不为0,电介质表面穆勒矩阵中6个元素均接近于0,并且该差异与材料粗糙程度无关。这种差异可以作为区分金属和电介质的判据,为探索新型的目标探测与识别手段提供了思路。

关 键 词:表面光学  光散射  随机粗糙表面  穆勒矩阵  基尔霍夫近似

Identification of Metals and Dielectrics Based on Mueller Matrix
Yan Zhengang,Sun Weiping,Li Jie,Wu Jiangpeng,Zhu Xinhong,Yuan Mengdi,Xue Liang,Yan Keding. Identification of Metals and Dielectrics Based on Mueller Matrix[J]. Laser & Optoelectronics Progress, 2019, 56(14): 232-239
Authors:Yan Zhengang  Sun Weiping  Li Jie  Wu Jiangpeng  Zhu Xinhong  Yuan Mengdi  Xue Liang  Yan Keding
Affiliation:(Xi'an Modern Control Technology Institute ,Xi'an ,Shaanxi 71006b,China;College of Electronic and Inform ation Engineering,Shanghai University of Electric Power,Shanghai 200090,China;School of Electronic Inform ation Engineering,Xi'an Technological University,Xi'an , Shaanxi 710021, China)
Abstract:Yan Zhengang;Sun Weiping;Li Jie;Wu Jiangpeng;Zhu Xinhong;Yuan Mengdi;Xue Liang;Yan Keding(Xi'an Modern Control Technology Institute ,Xi'an ,Shaanxi 71006b,China;College of Electronic and Inform ation Engineering,Shanghai University of Electric Power,Shanghai 200090,China;School of Electronic Inform ation Engineering,Xi'an Technological University,Xi'an , Shaanxi 710021, China)
Keywords:surface optics  light scattering  random rough surface  Mueller matrix  Kirchhoff approximation
本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录!
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