| 锰硅X荧光光谱分析的研究 |
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| 引用本文： | 孙春丽,郑建道,万冬林,王兆利,杜超伶. 锰硅X荧光光谱分析的研究[J]. 甘肃冶金, 2010, 32(5): 129-130,132 |
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| 作者姓名： | 孙春丽 郑建道 万冬林 王兆利 杜超伶 |
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| 作者单位： | 安阳钢铁公司质量处,河南安阳455004 |
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| 摘 要： | 选用最佳制样时间控制试样粒度;在一定压力条件下,用特制合金样托压制MnS i试样;采用标样控制仪器状态,分析总量控制分析准确度的方法,提高锰、硅的分析准确度,压片分析值与化学值相比,结果良好。
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| 关 键 词： | 粒度 准确度 分析总量 |
Study on the Analysis of Manganese-Silicon by X Flourescence Spectroscopy |
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| SUN Chun-li,ZHENG Jian-dao,WAN Dong-lin,WANG Zhao-li,DU Chao-ling. Study on the Analysis of Manganese-Silicon by X Flourescence Spectroscopy[J]. Gansu Metallurgy, 2010, 32(5): 129-130,132 |
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| Authors: | SUN Chun-li ZHENG Jian-dao WAN Dong-lin WANG Zhao-li DU Chao-ling |
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| Affiliation: | (Anyang Iron ＆ Steel Stock Co.Ltd.,Anyang 455004,China) |
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| Abstract: | The best sample preparation time control sample size;in certain pressure conditions,a special kind of care to suppress MnSi alloy specimen;the state standard sample control instruments,Analysis of the total control analysis methods to improve manganese,silicon analysis of accuracy,so that analysis of the value tablet,compared with the chemical value of a good result. |
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| Keywords: | sample size accuracy analysis of the total |
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