用高分辨扫描电镜观察多晶银中的缺陷 |
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作者姓名: | 陈朝旭 陈晞 |
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作者单位: | 福建省测试技术研究所,福建省测试技术研究所 |
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摘 要: | 用配有常规电子枪和高分辨二次电子探头的扫描电镜对多晶银(99.9%)厚样品中缺陷进行了以下三方面观察:1.用显微切削法制得样品观察面的质量;2.退火和不同形变量下的样品中缺陷的分布及组态;3.经真空时效形变试样观察面上的缺陷象衬的变化。由观察结果可得下述结论:1.切削平面光净,未观察到刀迹与范性形变;2.缺陷分布很不均匀,多为线状缺陷,也有少量点状缺陷。随形变量增加,形成胞状结构愈多。从
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