| MC6800微处理机功能测试程序的研制 |
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| 引用本文： | 陈庆方,刘家松. MC6800微处理机功能测试程序的研制[J]. 天津工业大学学报, 1987, 0(3) |
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| 作者姓名： | 陈庆方 刘家松 |
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| 作者单位： | 天津纺织工学院，天津大学 |
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| 摘 要： | 本文介绍了 MC6800功能测试程序的一种研制方案及程序的编制。该方案立足于测试技术的先进性,测试程序的有效性、实用性与经济性。以生产厂和用户之间交接产品时共同遵守的测试为宗旨,并对各类不同用户的使用环境提供方便。该方案吸收了一些现有方法的长处,并有所改进。根据我国微处理机生产与测试的国情,提出一种称为功能与结构兼测法的测试方法(这种方法的详细论证见参考文献[1]、[2]、[3])。这种方法在对微处理机进行功能测试的过程中,加强对弱点(容易出故障的工作部位)的测试。考虑微处理机工作时的内部干扰,信号丢失,传输延时,时钟链、进位链、时钟负载、频率范围(尤其是高低端的情况)、逻辑传送、驱动能力等因素。文章简要介绍了功能与结构兼测法的思想及其实现。对测试程序的结构进行了分析与说明。
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| 关 键 词： | 功能测试 微处理机测试 故障诊断 测试编码 程序设计 |
Development of a Functional Testing Program for MC 6800 Microprossor |
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| Chen Qing-Fang Tianjin Textile collegeLiu Jia-Song Tianjia university. Development of a Functional Testing Program for MC 6800 Microprossor[J]. Journal of Tianjin Polytechnic University, 1987, 0(3) |
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| Authors: | Chen Qing-Fang Tianjin Textile collegeLiu Jia-Song Tianjia university |
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| Affiliation: | Chen Qing-Fang Tianjin Textile collegeLiu Jia-Song Tianjia university |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Functional testing Microprocessor testing Fault diagnosis Test code program design |
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