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测试系统的热分析与设计
引用本文:傅龙珠.测试系统的热分析与设计[J].电子机械工程,2004,20(5):8-10.
作者姓名:傅龙珠
作者单位:中国电子科技集团公司第十四研究所,江苏,南京,210013
摘    要:军用电子测试仪器的性能指标将直接影响军用装备的性能.。研究表明,电子设备和电子器件失效率70%以上是由热引起的,因此热设计技术就成为提高电子设备可靠性的关键技术。文章在分析了测试系统的热特性的基础上,具体阐述了测试系统热设计中的设计思想、步骤及一些具体散热结构。

关 键 词:测试系统  热设计  发热密度  风冷
文章编号:1008-5300(2004)05-0008-03

Thermal Analysis and Design of Testing System
FU Long-zhu.Thermal Analysis and Design of Testing System[J].Electro-Mechanical Engineering,2004,20(5):8-10.
Authors:FU Long-zhu
Affiliation:14th institute of CETC
Abstract:Military equipment performance is directly affected by the quality of military electronic testing instrument. Investigation shows that heat leads to 70 percent of failure of electric instrument and equipment, so thermal technique becomes the key technique of improving equipments reliability. On the base of analyzing thermal characteristics, the paper shows idea, approach, to the radiator thermal design of testing system.
Keywords:testing system  thermal design  density of heating  air cooling
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