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双光束低能单色X光机及其性能测试
引用本文:杨进蔚,孙宗元,欧阳斌,马明义,冯智梁.双光束低能单色X光机及其性能测试[J].核电子学与探测技术,1986(2).
作者姓名:杨进蔚  孙宗元  欧阳斌  马明义  冯智梁
作者单位:核工业部西南物理所 (杨进蔚),紫金山天文台 (孙宗元),上海光机所 (欧阳斌),中国科学技术大学 (马明义),南京江宁分析仪器厂(冯智梁)
摘    要:软X和超软X射线辐射测量在核物理、高能物理、天体物理、核爆炸及受控热核聚变研究中起着重要作用。近年来,这些工作在国内外发展相当迅速,相继出现了多种探测器和新的诊断手段。但是这需要单色软X射线源作为刻度源和信号源,能量低于5keV以下,半衰期较长的源已找不到。在国外曾采用高能加速器中带电粒子的同步辐射作为软X和超软X射线源,但需要将探测系统搬到同步回旋辐射中心进行刻度或标定。这不仅费用高昂而且也未必方便,因此,研制在实验室内使用的小型低能X射线源是可取的,在国外相继研制了冷阴极X射线源、低能质子打靶X射线源、小型激光束打靶X时线

关 键 词:PET(异戊四醇)  KAP(肽酸钾)  LSD(硬质酸铅)  半宽
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