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衬底温度对常压MOCVD生长的ZnO单晶膜的性能影响
引用本文:熊传兵,方文卿,蒲勇,戴江南,王立,莫春兰,江风益.衬底温度对常压MOCVD生长的ZnO单晶膜的性能影响[J].半导体学报,2004,25(12):1628-1633.
作者姓名:熊传兵  方文卿  蒲勇  戴江南  王立  莫春兰  江风益
作者单位:南昌大学教育部发光材料与器件工程研究中心,南昌,330047;南昌大学教育部发光材料与器件工程研究中心,南昌,330047;南昌大学教育部发光材料与器件工程研究中心,南昌,330047;南昌大学教育部发光材料与器件工程研究中心,南昌,330047;南昌大学教育部发光材料与器件工程研究中心,南昌,330047;南昌大学教育部发光材料与器件工程研究中心,南昌,330047;南昌大学教育部发光材料与器件工程研究中心,南昌,330047
基金项目:国家高技术研究发展计划(863计划)
摘    要:以H2O作氧源,Zn(C2H5)2作Zn源,N2作载气,在50mmAl2O3(0001)衬底上采用常压MOCVD技术生长出高质量的ZnO单晶薄膜.用X射线双晶衍射、原子力显微镜和光致发光技术对样品进行了综合表征,报道了ZnO单晶膜的(102)非对称衍射结果.研究结果表明,在500~700℃范围内随生长温度升高,ZnO薄膜的双晶摇摆曲线半峰宽增宽,表面粗糙度减小,晶粒尺寸增大,在衬底温度为600℃时生长的ZnO膜的深能级发射最弱.

关 键 词:MOCVD  ZnO  X射线双晶衍射  原子力显微镜  光致发光
文章编号:0253-4177(2004)12-1628-06
修稿时间:2003年11月5日

Effect of Growth Temperature on Properties of Single Crystalline ZnO Films Prepared by Atmospheric MOCVD
Xiong Chuanbing,Fang Wenqing,Pu Yong,Dai Jiangnan,Wang Li,Mo Chunlan and Jiang Fengyi.Effect of Growth Temperature on Properties of Single Crystalline ZnO Films Prepared by Atmospheric MOCVD[J].Chinese Journal of Semiconductors,2004,25(12):1628-1633.
Authors:Xiong Chuanbing  Fang Wenqing  Pu Yong  Dai Jiangnan  Wang Li  Mo Chunlan and Jiang Fengyi
Abstract:
Keywords:MOCVD  ZnO  XRD  AFM  PL
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