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电迁徒参数的电流斜坡动态测试
引用本文:孙英华,李志国.电迁徒参数的电流斜坡动态测试[J].北京工业大学学报,1996,22(4):31-36.
作者姓名:孙英华  李志国
作者单位:北京工业大学电子工程学系
摘    要:采用电流斜波法测试了4种不同金属化样品,其n值分别为2.29(Al-Si合金膜),1.25(Al-Si-Cu合金膜),1.28(Al-Si/Ti双层金属化),1.23(Al/TiWTi/Al多层金属化)结果表明,n值与材料有关,电迁徒阻力越高n值越小,与BLACK方程相符,同时,考察了不同温度和不同电流上升斜率对n值测量结果的影响,试验表明,在相当宽度的温度范围和测试时间内获得n值一致性很好。

关 键 词:半导体器件  可靠性  电迁徒  电流斜坡法  测试
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