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硅微透镜阵列的制备工艺
引用本文:乌李瑛,刘丹,刘民,张笛,权雪玲,瞿敏妮,马玲,程秀兰. 硅微透镜阵列的制备工艺[J]. 半导体光电, 2023, 44(3): 389-394
作者姓名:乌李瑛  刘丹  刘民  张笛  权雪玲  瞿敏妮  马玲  程秀兰
作者单位:上海交通大学 电子信息与电气工程学院先进电子材料与器件平台, 上海 200240
基金项目:国家科技部“十三五”高性能计算重点研发计划项目子课题项目(2016YFB0200205);2018年度上海研发公共服务平台建设项目(18DZ2295400);2021年上海交通大学决策咨询重点课题项目(JCZXSJA-04);2020年上海交通大学决策咨询课题项目(JCZXSJB2020-010).*通信作者:刘丹 E-mail:liudanqh@sjtu.edu.cn
摘    要:开发了一种和MEMS工艺兼容的基于硅微加工技术的简易硅微透镜阵列制造技术。利用光刻胶热熔法和等离子体刻蚀法相结合的方法,实现了在硅晶圆上制作不同尺寸的硅微透镜阵列的工艺过程。实验中,对透镜制作过程中的热熔工艺、刻蚀工艺进行了深入的研究。最终确定了最优的工艺参数,制备了孔径在20~90μm、表面质量高的硅微透镜阵列。

关 键 词:硅微透镜阵列   光刻胶热熔法   电感耦合等离子体刻蚀   刻蚀缺陷
收稿时间:2023-02-17

Fabrication Process for Microlens Array on Silicon
WU Liying,LIU Dan,LIU Min,ZHANG Di,QUAN Xueling,QU Minni,MA Ling,CHENG Xiulan. Fabrication Process for Microlens Array on Silicon[J]. Semiconductor Optoelectronics, 2023, 44(3): 389-394
Authors:WU Liying  LIU Dan  LIU Min  ZHANG Di  QUAN Xueling  QU Minni  MA Ling  CHENG Xiulan
Affiliation:Center for Advanced Electronic Materials and Devices, School of Electronic Information and Electrical Engineering, Shanghai Jiaotong University, Shanghai 200240, CHN
Abstract:
Keywords:silicon microlens array   photoresist hot melt method   ICP-RIE   etch defect
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