DNAN/RDX熔注炸药发射安全性模拟试验研究

DNAN基熔注炸药因优异的安全性能在世界范围内正广泛替代TNT基熔注炸药，但国内目前鲜有关于其在发射过载环境下的安全性研究报道，严重限制了国内榴弹等高膛压火炮用DNAN基熔注炸药的配方研制。为此，以DNAN/RDX(40/60)熔注炸药为对象，基于炸药抗过载装置，利用整形器技术进行波形整形，获得了与发射过载相似的载荷特征，建立了炸药装药发射安全性模拟试验装置，并采用临界底隙判据对炸药的发射安全性展开定量研究。结果表明：?15 mm×14 mm的DNAN/RDX配方药柱在打击速度为2.85 m/s条件下，所受载荷峰值为306 MPa,脉宽为7.85 ms,临界底隙为3.19 mm;在打击速度为6.66 m/s条件下，药柱所受载荷峰值为681 MPa,脉宽5.99 ms,临界底隙为1.31 mm;在打击速度为9.26 m/s条件下，药柱所受载荷峰值为1 100 MPa,脉宽5.58 ms,临界底隙为1.0 mm。根据药柱临界底隙随发射载荷幅值的变化规律，同一载荷下DNAN/RDX(40/60)临界底隙比B炸药大10%以上。