基于ADμC7020的高速误码测试仪 |
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作者姓名: | 潘冬 |
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作者单位: | 四川泰瑞创科技公司,成都,610063 |
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摘 要: | 针对国内外高速误码测试仪价格昂贵、系统复杂的现状,采用ADI公司的ARM7TDMI微控制器ADμC7020和Silicon Laboratories公司生产的XFP收发芯片Si5040,设计一种简易、低成本的误码测试系统。系统由Si5040、ADμC7020和虚拟仪器Lab Windows/CVI组成。Si5040具有可编程的伪随机码比特流生成和比较功能,读出误码值,通过ADμC7020计算得到误码率,并通过I^2C接口与Lab Windows/CVI构成的上位机进行通信。
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关 键 词: | ADμC7020 Si5040 误码率 Lab Windows/CVI |
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