|
|||||
|
|
| GaAlAs红外发光二极管低频噪声检测方法 | |
| 作者姓名： | 熊建国 黄贻培 杨代强 陈志高 |
| 作者单位： | 中国地震局地震研究所 |
| 基金项目： | 中国地震局地震研究所基金,重庆市高等教育教学改革研究重点项目 |
| 摘 要： | 通过分析GaAlAs红外发光二极管(IRED)的低频噪声产生机理及特性,建立了GaAlAs IRED的噪声模型,设计了一套低频噪声测试系统,通过该系统测量得到了GaAlAs IRED的低频噪声。实验表明,该方法能准确的测量GaAlAs IRED的低频噪声,发现其低频噪声主要表现为1/f噪声,得到与噪声模型一致的结果。该研究为GaAlAs IRLED可靠性的噪声表征提供了实验基础与理论依据。 |
| 关 键 词： | 低频噪声 红外发光二极管 噪声模型 氧化层陷阱 |
| 点击此处可从《电子器件》浏览原始摘要信息 | |
| 点击此处可从《电子器件》下载全文 | |