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确定性测试矢量生成的低功耗设计
引用本文:
李鹏,颜学龙,孙元.确定性测试矢量生成的低功耗设计[J].电子器件,2013,36(5).
作者姓名:
李鹏
颜学龙
孙元
作者单位:
桂林电子科技大学
摘 要:
在组合电路内建自测试过程中,为了保证在获得较高故障覆盖率的条件下,减少测试功耗,提出了一种确定性低功耗测试矢量的生成结构,该结构利用可配置反馈网络的LFSR作为确定性矢量生成器,并结合单翻转矢量插入逻辑的时钟复用原理,使确定性测试矢量间插入了单一跳变的测试矢量。通过对组合电路集ISCAS’85的实验,表明该设计不仅提高了故障覆盖率,缩短了测试时间,而且能有效降低电路的总功耗、平均功耗和峰值功耗。
关 键 词:
内建自测试
故障覆盖率
确定性测试矢量
测试功耗
可配置LFSR
Low Power Design by Determinstic Test Vectors Generation
Abstract:
Keywords:
BIST
Fault coverage
Deterministic test vectors
Test power consumption
Configurable LFSR
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