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| 确定性测试矢量生成的低功耗设计 | |
| 引用本文： | 李鹏,颜学龙,孙元.确定性测试矢量生成的低功耗设计[J].电子器件,2013,36(5). |
| 作者姓名： | 李鹏 颜学龙 孙元 |
| 作者单位： | 桂林电子科技大学 |
| 摘 要： | 在组合电路内建自测试过程中，为了保证在获得较高故障覆盖率的条件下，减少测试功耗，提出了一种确定性低功耗测试矢量的生成结构，该结构利用可配置反馈网络的LFSR作为确定性矢量生成器，并结合单翻转矢量插入逻辑的时钟复用原理，使确定性测试矢量间插入了单一跳变的测试矢量。通过对组合电路集ISCAS’85的实验，表明该设计不仅提高了故障覆盖率，缩短了测试时间，而且能有效降低电路的总功耗、平均功耗和峰值功耗。 |
| 关 键 词： | 内建自测试 故障覆盖率 确定性测试矢量 测试功耗 可配置LFSR |
Low Power Design by Determinstic Test Vectors Generation |
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| Abstract: | |
| Keywords: | BIST Fault coverage Deterministic test vectors Test power consumption Configurable LFSR |
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