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VHF-PECVD法高速率沉积氢化微晶硅薄膜
引用本文:杨恢东,吴春亚,黄君凯,麦耀华,张晓丹,薛俊明,任慧志,赵颖,耿新华,熊绍珍.VHF-PECVD法高速率沉积氢化微晶硅薄膜[J].太阳能学报,2004,25(2):127-132.
作者姓名:杨恢东  吴春亚  黄君凯  麦耀华  张晓丹  薛俊明  任慧志  赵颖  耿新华  熊绍珍
作者单位:1. 南开大学光电所,天津,300071;暨南大学电子工程系,广州,510632
2. 南开大学光电所,天津,300071
3. 暨南大学电子工程系,广州,510632
基金项目:国家重点基础发展规划项目"973"资助(G20000282 2,G20000282 3)
摘    要:采用光发射谱(OES)技术对氢化微晶硅(μc-Si:H)薄膜的甚高频等离子体增强化学气相沉积(VHF-PECVD)生长过程进行了原位监测,并对不同沉积条件下VHF等离子体中SiH和H的发光峰强度与薄膜沉积速率之间的关系进行了分析与讨论。通过Raman光谱、X射线衍射与扫描电子显微镜(SEM)测量,研究了μc-Si:H薄膜的结构特征与表面形貌。基于当前的沉积系统,对μc—Si:H薄膜沉积条件进行了初步优化,使μc—Si:H薄膜的沉积速率提高到2.0nm/s。

关 键 词:光发射谱  氢化微晶硅薄膜  甚高频等离子体化学气相沉积  高速沉积
文章编号:0254-0096(2004)02-0127-06

HIGH GROWTH-RATE DEPOSITION OF HYDROGENATED MICROCRYSTALLINE SILICON THIN FILM WITH VHF-PECVD
Yang Huidong.HIGH GROWTH-RATE DEPOSITION OF HYDROGENATED MICROCRYSTALLINE SILICON THIN FILM WITH VHF-PECVD[J].Acta Energiae Solaris Sinica,2004,25(2):127-132.
Authors:Yang Huidong
Affiliation:Yang Huidong~
Abstract:
Keywords:
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