CENDL-3.1硅的宏观检验 |
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引用本文: | 吴海成.CENDL-3.1硅的宏观检验[J].中国原子能科学研究院年报,2007(1). |
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作者姓名: | 吴海成 |
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摘 要: | 利用日本的中子和γ泄漏谱实验OKTAVIAN对CENDL-3.1版硅同位素的全套中子评价数据进行宏观检验。检验工作比较了基于评价核数据库CENDL-2.1、3.1,ENDF/B—VII.0和JENDL-3.3的中子和γ泄漏谱的计算值和实验测量值。检验分析发现,CENDL-3.1的^28Si的分立能级非弹散射截面可能偏小,(n,p)、(n,α)反应的光子产生数据缺失,14Mev的弹性截面偏大等。这些问题有待进一步修正。
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关 键 词: | 宏观检验 硅同位素 非弹散射截面 核数据库 检验工作 检验分析 分立能级 数据缺失 |
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