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观察裂纹路径及组织演变的SEM样品制备方法研究
引用本文:许天旱,杨宝,王党会. 观察裂纹路径及组织演变的SEM样品制备方法研究[J]. 电子显微学报, 2015, 0(2): 163-168
作者姓名:许天旱  杨宝  王党会
作者单位:西安石油大学材料科学与工程学院,陕西 西安,710065
基金项目:青年科技创新基金项目(No. Z12180);国家863计划资助项目(No.2006AA06A107);陕西省重点学科专项资金资助项目(No. ys32030203).
摘    要:本试验利用SEM和电阻炉研究一种SEM样品的制备方法,用于观察裂纹路径,并分析断裂后的显微组织变化。结果表明:通过浸镀焊锡,能够在不同断裂方式形成的裂纹轨迹上形成一条明显的"纯锡带",呈现出裂纹路径。同时该方法能够观察分析拉伸、冲击、断裂韧性及疲劳断裂等过程中产生的二次裂纹路径及断裂表层下的组织演变。

关 键 词:SEM  浸锡  裂纹扩展路径  组织结构变化  纯锡带

Study on SEM specimen preparation method for observation of crack path and microstructure development
XU Tian-han,YANG Bao,WANG Dang-hui. Study on SEM specimen preparation method for observation of crack path and microstructure development[J]. Journal of Chinese Electron Microscopy Society, 2015, 0(2): 163-168
Authors:XU Tian-han  YANG Bao  WANG Dang-hui
Affiliation:XU Tian-han;YANG Bao;WANG Dang-hui;Xi’an Shiyou University,College of Materials Science and Engineering;
Abstract:
Keywords:SEM  hot-dip tin  crack growth path  microstructure variation  pure tin strip
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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