基于嵌入式技术的太阳电池Ⅰ-Ⅴ性能测试仪 |
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引用本文: | 袁俊明,周文利,王晓晶,甘天罡,温丹,于军.基于嵌入式技术的太阳电池Ⅰ-Ⅴ性能测试仪[J].仪表技术与传感器,2011(8). |
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作者姓名: | 袁俊明 周文利 王晓晶 甘天罡 温丹 于军 |
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作者单位: | 华中科技大学电子科学与技术系; |
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基金项目: | 湖北省自然科学基金(2008CDA025) |
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摘 要: | 设计了一款基于嵌入式技术的手持式太阳电池Ⅰ-Ⅴ性能测试仪。该测试仪以ARM920体系芯片S3C2440为核心,通过采集太阳电池电压、电流、光强和温度4路信号并通过对信号数据的处理,测得太阳能电池开路电压、短路电流、最佳工作点、串联电阻、并联电阻、电池效率等关键参数,并在触摸屏上实时显示Ⅰ-Ⅴ曲线。目前该项目已完成系统硬件设计与调试和测试界面程序的设计。调试结果表明系统工作稳定,系统功耗小。界面简洁、运行流畅、操作简单。
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关 键 词: | 嵌入式技术 太阳电池 Ⅰ-Ⅴ性能 触摸屏 手持仪器 |
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