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| 基于神经网络的电路多故障测试及并行实现 | |
| 引用本文： | 潘中良,陈翎. 基于神经网络的电路多故障测试及并行实现[J]. 仪器仪表学报, 2002, 23(Z2): 680-681 |
| 作者姓名： | 潘中良 陈翎 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(NO.60006002). |
| 摘 要： | 对数字电路的多故障测试生成,首先构造被测电路的约束电路结构,并建立测试生成的神经网络模型,然后采用遗传进化算法计算约束电路对应神经网络能量函数的最小值点而获得给定多故障的测试矢量,该方法具有易于实现和有良好的内在并行性等特点.同时给出了算法的并行实现方案. |
| 关 键 词： | 数字电路 测试生成 神经网络 并行算法 多故障 |
Multiple Fault Test Based on Neural Networks and its Parallel Implement |
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