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基片温度对Fe-N化合物薄膜制备及磁性能的影响
引用本文:郭治天,韩奎. 基片温度对Fe-N化合物薄膜制备及磁性能的影响[J]. 电工材料, 2004, 0(1): 24-27
作者姓名:郭治天  韩奎
作者单位:中国矿业大学理学院,江苏,徐州,221008;中国矿业大学理学院,江苏,徐州,221008
摘    要:用X射线衍射仪和振动样品磁强计研究了双离子束溅射法制备的Fe—N薄膜的相组成和磁性能。结果表明,基片温度对不同基片上制得的薄膜的结构和磁性能有显著影响。基片温度为250℃和300℃时,在(111)硅片基片上制得无晶粒择优取向的单—γ″—Fe4N相;基片温度为160℃时,可在玻璃基片上制得具有(100)面晶粒取向的单一γ′—Fe4N相薄膜。薄膜磁性测量表明,与无晶粒择优取向的γ′—Fe4N相比较,具有(100)面晶粒取向的γ′—Fe4N相的矫顽力较低,易达到磁饱和,但二者的饱和磁化强度基本一致。

关 键 词:基片温度  Fe-N薄膜  晶粒取向  磁性能
文章编号:1671-8887(2004)01-0024-04
修稿时间:2003-11-01

The Effects of Substrate Temperature on the Formation and Magnetic Properties of Fe- N Compound Thin Films
GUO Zhi_tian,HAN Kui. The Effects of Substrate Temperature on the Formation and Magnetic Properties of Fe- N Compound Thin Films[J]. Electrical Engineering Materials, 2004, 0(1): 24-27
Authors:GUO Zhi_tian  HAN Kui
Abstract:
Keywords:Substrate temperature  Fe-N thin films  crystal orientation  magnetic properties
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