| 氧化导致的Fe—Pt薄膜合金成分偏离的分析方法 |
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| 引用本文： | 吴培文,胡学让,袁俊. 氧化导致的Fe—Pt薄膜合金成分偏离的分析方法[J]. 电子显微学报, 2005, 24(4): 293-293 |
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| 作者姓名： | 吴培文 胡学让 袁俊 |
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| 作者单位： | 清华大学材料科学与工程学系电子显微镜实验室,北京,100084 |
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| 摘 要： | Fe-Pt薄膜有望在高密度磁记录中得到应用，其合金成分是影响磁记录性能的一个重要因素。Fe50Pt50被认为具有最优的铁磁性能，而在非外延（001）薄膜织构生长中Fe60Pt40的成分被证明有助于提高易磁化轴c轴的取向度。然而，我们发现纳米薄膜和纳米颗粒的表面氧化会严重影响薄膜中合金的成分。但由于一般Fe-Pt40的成分被证明有助于提高易磁化轴c轴的取向度。然而，我们发现纳米薄膜和纳米颗粒的表面氧化会严重影响薄膜中合金的成分。但由于一般Fe-Pt纳米薄膜和纳米颗粒的氧化层极薄，
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| 关 键 词： | 合金成分 Pt薄膜 表面氧化 偏离 Fe 高密度磁记录 纳米颗粒 纳米薄膜 易磁化轴 |
Characterization of oxidation induced composition change in Fe-Pt alloyed thin film |
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| WU Pei-wen,HU Xue-rang,YUAN Jun. Characterization of oxidation induced composition change in Fe-Pt alloyed thin film[J]. Journal of Chinese Electron Microscopy Society, 2005, 24(4): 293-293 |
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| Authors: | WU Pei-wen HU Xue-rang YUAN Jun |
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