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| 多光路下基于RGB三通道的手机壳表面缺陷检测 | |
| 作者姓名： | 刘源泂 雷娇 王兴东 汤勃 |
| 作者单位： | 武汉科技大学冶金装备及其控制教育部重点实验室,湖北武汉430081;武汉科技大学机械传动与制造工程湖北省重点实验室,湖北武汉430081;武汉科技大学冶金装备及其控制教育部重点实验室,湖北武汉430081;武汉科技大学机械传动与制造工程湖北省重点实验室,湖北武汉430081;武汉科技大学冶金装备及其控制教育部重点实验室,湖北武汉430081;武汉科技大学机械传动与制造工程湖北省重点实验室,湖北武汉430081;武汉科技大学冶金装备及其控制教育部重点实验室,湖北武汉430081;武汉科技大学机械传动与制造工程湖北省重点实验室,湖北武汉430081 |
| 摘 要： | |
| 关 键 词： | 手机壳表面缺陷 暗场成像 多光路组合照明系统 RGB颜色空间 边缘检测 |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ | |