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微型平面薄膜气敏元件及过冲驰豫现象的机理
作者姓名:邢建平  李秀宇  曾繁泰  李伟业  蔡成森  李娟  孟令国
作者单位:山东大学信息科学与工程学院,济南,250100
摘    要:利用粉末反溅研制了SnO2/CeO2Si基微型平面薄膜元件,最佳乙醇灵敏度达到80,响应时间<10s,恢复时间<15s;采用闭式实验测量方法时出现了过冲驰豫现象,对其产生机理的物理过程进行了分析,找出了规律,并使用Matlab软件进行了仿真.

关 键 词:薄膜  气敏  过冲驰豫
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