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ICPCVD低温生长非晶硅的工艺及光学特性研究北大核心CSCD
作者姓名:王进张伟冷家君韩鹤彬沈文超陆铖灵张学敏
作者单位:1.中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所纳米加工平台215123;
基金项目:国家重点基础研发项目(2021YFC2203400)。
摘    要:文章利用ICPCVD在100℃及以下玻璃和蓝宝石片衬底上生长非晶硅薄膜,并通过调节Ar和SiH4气体流量比例、射频功率及衬底温度等参数,实现低温下高质量非晶硅薄膜的生长。随后用拉曼光谱表征分析研究了衬底温度变化对非晶硅薄膜沉积质量的影响,并计算出衬底温度为100℃时,非晶硅薄膜的结晶分数和微晶尺寸分别为64.4%和4.7 nm。此外还研究了非晶硅薄膜折射率和透过率等光学特性,并计算出薄膜的光学带隙最低为1.68。最后制备了两种a-Si/SiO_(2)/a-Si布拉格反射结构,厚度分别为36/100/41 nm和62/132/60 nm。两种结构在可见光和红外波段分别实现了90.4%和88.9%的最高反射率。

关 键 词:ICPCVD  非晶硅薄膜  射频功率  折射率  布拉格反射
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