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| 一种新型测试生成电路的设计 | |
| 引用本文： | 李田泽,胡健,李增祥.一种新型测试生成电路的设计[J].传感器世界,2003,9(11):24-27. |
| 作者姓名： | 李田泽 胡健 李增祥 |
| 作者单位： | 山东理工大学电气与电子学院 (李田泽，胡健)，山东理工大学电气与电子学院(李增祥) |
| 摘 要： | 使用d兼容为基础的宽压缩，设计了一种用于混合式机内自动测试的新型测试生成电路。这种测试电路具有每个时钟循环都对电路进行测试的特点，特别适合于自动计数的设计和自测结构。 |
| 关 键 词： | 测试生成电路 错误覆盖 实验时钟 时标测试 扫描测试 |
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