| 基于Atmel微控制器的小型数据测量系统的实现 |
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| 引用本文： | 张莉,王磊.基于Atmel微控制器的小型数据测量系统的实现[J].今日电子,2007(8):56-58. |
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| 作者姓名： | 张莉 王磊 |
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| 摘 要： | 随着无铅焊料应用的普及,无铅焊料焊点的可靠性问题显得尤为重要。美国AT＆T的HAnthony Chan认为电子产品的失效主要源于元件问题、设计不良和组装过程。电子器件服役时,在环境温度变化（或功率循环）时由于芯片与基板、元器件与印制电路板材料热膨胀系数的差异，在焊点内产生热应力而造成焊点的疲劳损伤；相对于服役的环境温度，焊料自身熔点较低，随着时间的延续，产生明显的黏性行为而导致焊点的蠕变损伤。
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| 关 键 词： | Atmel 微控制器 数据测量系统 LabView based measurement system data 蠕变损伤 行为 时间 熔点 焊料 环境温度 疲劳损伤 热应力 差异 热膨胀系数 材料 印制电路板 元器件 |
Development of a data measurement system based on Atmel and LabView |
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