X射线荧光光谱仪测定地质矿物中的金属元素研究

由于传统测量仪器在进行地质矿物中的金属元素测定工作,没有根据金属元素含量测量的工作曲线圈定异常数值范围,因此测定结果精准度低。针对这一问题,进行波长色散型的X射线荧光光谱仪测定地质矿物中的金属元素研究。通过对地质矿物样品进行检测,确定地质矿物中的背景值与异常下限。本文采用荷兰帕纳科公司制造Axios-mAX型波长色散型的X射线荧光光谱仪一次测定地质矿物样品中Cu、Pb、Zn、Sn、W元素含量,将电感耦合等离子体光谱仪(ICP-OES)与帕纳科波长色散型的X射线荧光光谱仪所测结果进行对比分析。实验结果表明,帕纳科波长色散型的X射线荧光光谱仪测定地质矿物样品中的金属元素含量更为准确,更加适合实际生产需要。