| 抗辐照相变存储器芯片温度适应性研究 |
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| 引用本文： | 段欣欣,王敏琪,潘乐乐,邱源,程志渊.抗辐照相变存储器芯片温度适应性研究[J].计算机测量与控制,2019,27(10):214-217. |
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| 作者姓名： | 段欣欣 王敏琪 潘乐乐 邱源 程志渊 |
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| 作者单位： | 上海航天电子技术研究所,,,, |
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| 摘 要： | 分析了相变存储器应用于航天器时应该考虑的高低温可靠性,并设计实验研究镁光公司研发推出的低功耗相变存储芯片LPDDR2-PCM MT66R7072,以评估其空间应用的可行性。实验结果显示：在-40℃~80℃范围下,相变存储芯片能够正常实现读写操作,在25℃下,待机功耗为9.792mW,最大工作功耗为36.474mW,相对现役空间存储器,表现出明显的低成本、低功耗和高可靠性等优势。
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| 关 键 词： | 相变存储器 GST 适应性 抗辐照 低功耗 |
| 收稿时间： | 2019/4/10 0:00:00 |
| 修稿时间： | 2019/5/7 0:00:00 |
Research on Temperature Adaptability of Phase Change Memory Chip |
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