| 基于LabVIEW的标签差分雷达截面分析与测量 |
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| 引用本文： | 郭稳涛,何怡刚. 基于LabVIEW的标签差分雷达截面分析与测量[J]. 微电子学, 2011, 41(6) |
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| 作者姓名： | 郭稳涛 何怡刚 |
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| 作者单位： | 1. 湖南机电职业技术学院,长沙,410151
2. 湖南大学,长沙,410082 |
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| 基金项目： | 国家杰出青年科学基金资助项目(50925727); 国家自然科学基金资助项目(60876022) |
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| 摘 要： | 差分雷达截面(ARCS)是描述无源超高频射频识别(UHF RFID)标签性能的重要参数,它决定标签到阅读器的反向链路误码率.但是,没有直接测量ARCS的方法,需要采取间接方式进行测量.基于NI的射频板卡,开发了标签反射矢量信号分析软件,给出△RCS的测量方法,并对贴附物材料及发送功率对ARCS的影响进行了分析和测量.
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| 关 键 词： | 射频识别 雷达反射截面 LabVlEW IQ基带信号 |
Analysis and Measurements of Tag's Delta RCS Based on LabVIEW |
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| GUO Wentao , HE Yigang. Analysis and Measurements of Tag's Delta RCS Based on LabVIEW[J]. Microelectronics, 2011, 41(6) |
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| Authors: | GUO Wentao HE Yigang |
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| Affiliation: | GUO Wentao1,HE Yigang2(1.College of Hunan Mechanical & Electrical Polytechnic,Changsha 410151,P.R.China,2.Hunan Univ.,Changsha 410082,P.R.China) |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | RFID Radar cross section(RCS) LabVIEW IQ baseband signal |
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