| 基于形态学处理的太阳能晶片计数研究 |
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| 引用本文： | 方超,谭伟,杜建洪. 基于形态学处理的太阳能晶片计数研究[J]. 计算机工程与应用, 2011, 47(20): 178-180. DOI: 10.3778/j.issn.1002-8331.2011.20.050 |
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| 作者姓名： | 方超 谭伟 杜建洪 |
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| 作者单位： | 复旦大学 信息科学与工程学院通信科学与工程系，上海 200433 |
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| 摘 要： | 针对工业生产中太阳能晶片人工计数的难以实施，提出了运用数字图像处理技术的自动计数方法。通过对晶片叠层图像的纹理分析，提出了一种二值化计数方法，通过对二值图像的特殊的形态学处理后，得到一幅便于计数的图像。实验结果表明该算法有较高的计数精度，而且算法简单可行，具有实用价值。
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| 关 键 词： | 纹理特征 形态学处理 膨胀腐蚀 二值化 |
| 修稿时间： | |
Study on solar energy wafer counting based on morphology processing |
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| FANG Chao,TAN Wei,DU Jianhong. Study on solar energy wafer counting based on morphology processing[J]. Computer Engineering and Applications, 2011, 47(20): 178-180. DOI: 10.3778/j.issn.1002-8331.2011.20.050 |
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| Authors: | FANG Chao TAN Wei DU Jianhong |
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| Affiliation: | School of Information Science and Engineering，Fudan University，Shanghai 200433，China |
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| Abstract: | This article presents an automatic counting method using digital image processing to solve difficulties in manual Solar Energy Wafer（SEW） counting in the industry.By analyzing the texture, a morphology processing counting method is proposed.Experimental result shows that the algorithm is simple and feasible. |
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| Keywords: | textural property morphology processing dilation and erosion binarization
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