首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

硅压力传感器的可靠性测试
引用本文:程军.硅压力传感器的可靠性测试[J].电子产品可靠性与环境试验,2003(2):58-60.
作者姓名:程军
作者单位:武汉职业技术学院电子信息系,湖北,武汉,430074
摘    要:硅压力传感器的可靠性测试技术研究受到了国内外的重视,对它的测试项目及其加速寿命测试方法进行了综述。

关 键 词:硅压力传感器  可靠性测试  寿命测试  化学反应率
修稿时间:2002年11月14

Reliability Testing for Silicon Pressure Sensors
CHENG Jun.Reliability Testing for Silicon Pressure Sensors[J].Electronic Product Reliability and Environmental Testing,2003(2):58-60.
Authors:CHENG Jun
Abstract:Reliability testing of silicon pressure sensor is an important research area in the world. This paper discasses the testing purpose and the methodology of accelerated life testing.
Keywords:silicon pressure sensors  reliability testing  failure
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号