不同温度烧结的赝两元合金(PbTe)1-x(snTe)x电学性能 |
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作者姓名: | 崔教林 钱欣 赵新兵 |
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作者单位: | 宁波高等专科学校机械系,浙江工业大学化工学院,宁波高等专科学校机械系 宁波 315016,浙江大学材料系,杭州 310027,杭州 310014,宁波 315016 |
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基金项目: | 浙江省自然科学基金(501047),宁波市博士基金(01J20102-10) |
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摘 要: | 首次采用粉末冶金法在大成分范围内制备了赝两元合金(PbTe)1-x(SnTe)x(x=0~1),并对其电学性能进行了系统地研究.实验发现:经550℃烧结后,随合金中SnTe摩尔分数x增大,合金的最大Seebeck系数值减小.当摩尔分数x≤0.6时,最大Seebeck系数所对应的温度逐渐升高;摩尔分数x>0.6时基本不变.当摩尔分数x=0.6时电导率达最大值.经高温烧结后两参数值也有类似的变化规律,但摩尔分数>0.2的各合金Seebeck系数值高于550℃烧结后的合金,电导率降低.从而得出:烧结温度对赝两元合金(PbTe)1-x(SnTe)x的综合电学性能影响不大.
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关 键 词: | 赝两元合金 粉末冶金 电学性能 摩尔分数 |
文章编号: | 1000-324X(2003)02-0413-08 |
收稿时间: | 2002-05-15 |
修稿时间: | 2002-05-15 |
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