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| 通信类SoC测试方案--Base Band | |
| 作者姓名： | 徐勇 魏炜 川端雅之 小圆祐一 浅见幸司 |
| 作者单位： | ADVANTEST(徐勇，魏炜，川端雅之，小圆祐一)，ADVANTEST(浅见幸司) |
| 摘 要： | 本篇文章主要是以无线通信芯片的测试为课题来加以分析的，为了解决这个课题，在此将介绍基于ADVANTEST（爱德万测试）SoC测试系统的高速高精度的任意波形发生器（WVFG），波形数字转换器（WVFD），以及超高速任意波形发生器（GSAWG）上的所实现了结构和新近采用的技术，另外，这里也说明了关于利用这些技术进行测试的例子。 |
| 关 键 词： | SoC测试 BaseBand 任意波形发生器 波形数字转换器 无线通信芯片 |
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