| 基于遗传算法的数字电路测试生成方法 |
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| 引用本文： | 陈光禹,潘中良. 基于遗传算法的数字电路测试生成方法[J]. 电子学报, 1997, 0(4) |
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| 作者姓名： | 陈光禹 潘中良 |
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| 作者单位： | 电子科技大学ＣＡＴ研究室 |
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| 摘 要： | 本文提出了一种基于遗传算法的数字电路测试图形生成方法，首先把被测电路的门级描述转化为易于计算的非线性网络，然后用遗传算法找到网络能量函数的最优解，从而得到被测电路的测试集．这种方法对可测故障都能生成测试，能方便地产生多故障的测试图形，同时具有较好的并行性，易于在多处理机上实现．
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| 关 键 词： | 数字电路，测试生成，遗传算法，专家系统 |
A Circuit Test Generation Approach Based on Genetic Algorithm |
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| Chen Guangju,Pan Zhongliang. A Circuit Test Generation Approach Based on Genetic Algorithm[J]. Acta Electronica Sinica, 1997, 0(4) |
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| Authors: | Chen Guangju Pan Zhongliang |
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| Keywords: | Digital circuit Test generation Genetic algorithm Expert system |
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